校準:定期用標準厚度試塊(如廠家提供的校準片)校準儀器,避免長期使用導致的誤差偏移;
表面清潔:測量前需清除涂層表面的油污、灰塵、氧化層,否則會導致讀數(shù)偏大;
測量點選擇:避免在邊緣、凹陷或凸起處測量,需在平整區(qū)域取 3~5 個點平均值,確保數(shù)據(jù)代表性;
環(huán)境控制:高溫、濕度大、強磁場環(huán)境可能影響精度(如磁性膜厚計需遠離強磁鐵),需在儀器規(guī)定的環(huán)境條件下使用。
總之,膜厚計是涂層質(zhì)量控制的 “眼睛",選擇時需結(jié)合具體應用場景(基材、涂層類型、精度要求),使用時需注重校準和操作規(guī)范,才能確保數(shù)據(jù)的準確性和可靠性。